Испытание электрических характеристик полупроводников SMU S100 DC 30V 1A SMU Измерение
Цена: Negotiable
MOQ: 1 unit
Срок поставки: 2-8 weeks
Бренд: PRECISE INSTRUMENT
Выделять:СМУ по испытанию электрических характеристик полупроводников, Устройство SMU DC S100, S100 30V 1A SMU Измерение
Испытание электрических характеристик полупроводников SMU S100 DC 30V 1A SMU Измерение
Измерительный прибор S100, тщательно разработанный компанией PRECISE INSTRUMENT, является выдающимся представителем отечественного оборудования для испытаний.Он нарушает давнюю монополию иностранных технологий и ... Посмотреть больше
➤ Посещать Интернет сайт
30V 30A Двуканальный источник измерения DP100B с измерением напряжения / тока
Цена: Negotiable
MOQ: 1 unit
Срок поставки: 2-8 weeks
Бренд: PRECISE INSTRUMENT
Выделять:30V 30A Двуканальный источник, DP100B Источник измерения, Степень напряжения тока в SMU
30V 30A Двуканальный источник измерения DP100B с измерением напряжения / тока
DP100B двойной канал высокоточное настольное измерение источника импульса является недавно разработанный высокоточное, большое динамическое,цифровой сенсорный источник измерения единицы, которая основана на одноканальной и... Посмотреть больше
➤ Посещать Интернет сайт
18V 1A Четырехканальная подкарточка Измерение источника импульса CBI403 SMU
Цена: Negotiable
MOQ: 1 unit
Срок поставки: 2-8 weeks
Бренд: PRECISE INSTRUMENT
Выделять:18В 1А Четырехканальное измерение источника, Единица измерения источника импульса подкарты, CBI403 Измерение МСП
18V 1A Четырехканальная подкарточка Измерение источника импульса CBI403 SMU
Модульная подкарта CBI401 является членом семейства источниковых единиц измерения (SMU) серии CS, предназначенной для высокоточной электрической характеристики с высоким динамическим диапазоном.Его модульная архитектура позв... Посмотреть больше
➤ Посещать Интернет сайт
300A 30V импульсное питание источник высокого тока HCPL030 для SiC IGBT GaN HEMT испытания
Цена: Negotiable
MOQ: 1 unit
Срок поставки: 2-8 weeks
Бренд: PRECISE INSTRUMENT
Выделять:Импульсное питание 300А 30В, Источник высокого тока 300А 30В, Испытательный импульс питания HEMT
300A 30V импульсное питание источник высокого тока HCPL030 для SiC IGBT GaN HEMT испытания
Силовое питание с высоким импульсом серии HCPL030 представляет собой источник постоянного импульса.с внешним реле управления), поддержка двухканального измерения импульсного напряжения (пиковый отбор проб) и п... Посмотреть больше
➤ Посещать Интернет сайт
1200V 100mA Средство измерения высоковольтного источника питания для испытания разрыва IGBT
Цена: Negotiable
MOQ: 1 unit
Срок поставки: 2-8 weeks
Бренд: PRECISE INSTRUMENT
Выделять:Единица измерения источника высокого напряжения, 1200В 100mA источник питания высокого напряжения, Высоковольтный источник питания IGBT
1200V/100mA Высоковольтный источник питания для испытания разрывного напряжения IGBT
E100 - это высокопроизводительное устройство измерения источника высокого напряжения, специально разработанное для испытаний высокого напряжения.и точно измерить слабые сигналы тока до 1nA, охватывающий диапазон ток... Посмотреть больше
➤ Посещать Интернет сайт
20A CW / 20A QCW Испытание лазерного источника питания HCPL002 Высокомощный диодный лазерный источник питания
Цена: Negotiable
MOQ: 1 unit
Срок поставки: 2-8 weeks
Бренд: PRECISE INSTRUMENT
Выделять:20A QCW Испытание лазерного источника питания, 20A CW испытательный лазерный источник питания, HCPL002 Диодный лазерный источник питания
20A CW / 20A QCW Испытание лазерного источника питания HCPL002 Высокомощный диодный лазерный источник питания
HCPL002 - это мощный лазерный испытательный источник питания, предназначенный для удовлетворения самых требовательных потребностей в испытаниях с использованием передовых технологий.и токи C... Посмотреть больше
➤ Посещать Интернет сайт
1MS/S Карта получения данных A400 4 канала 16 битная карта DAQ
Цена: Negotiable
MOQ: 1 unit
Срок поставки: 2-8 weeks
Бренд: PRECISE INSTRUMENT
Выделять:Карта получения данных A400, Карта Daq с разрешением 16 бит ADC, Карта сбора данных по 4 каналам
1MS/S Карта получения данных A400 4 канала 16 битная карта DAQ
Карта сбора данных A400 - это тип плагин-карты, разработанная и разработанная Psysi, которая поддерживает выборку данных с переменной скоростью и большую емкость хранения данных.с 4 каналами на одной карте и до 40 каналами на одном хосте... Посмотреть больше
➤ Посещать Интернет сайт
Системы испытаний полупроводников для лазерного старения LDBI Система многоканального испытания
Цена: Negotiable
MOQ: 1 unit
Срок поставки: 2-8 weeks
Бренд: PRECISE INSTRUMENT
Выделять:Системы испытаний полупроводников для лазерного старения, Системы испытаний полупроводников LDBI, Анализатор многоканального устройства питания
Системы испытаний полупроводников для лазерного старения LDBI Система многоканального испытания
LDBI multi-channel high-power laser aging system is specifically designed to address the issues of kilowatt-level high-power semiconductor laser chips and pump laser modules that require narrow pulse high... Посмотреть больше
➤ Посещать Интернет сайт